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儀器類別:
應(yīng)用領(lǐng)域:
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新型CMI900系列即時(shí)分析儀代表了牛津儀器（OXFORDINSTRUMENTS）鍍層厚度測(cè)量和材料成份分析技術(shù)的一次重大飛躍。軟件和硬件領(lǐng)域的新進(jìn)步提高了我們X線系列產(chǎn)品的性能。CMI900系列能夠測(cè)量極薄...
廣東惠州
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掃描電鏡（SEM），全稱掃描電子顯微鏡（scanningelectronmicroscope）。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的電子顯微鏡。它能產(chǎn)生樣品表面的高分辨率圖像，且圖像呈三維，掃描電...
廣東
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聯(lián)系電話：39943037 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 性能指標(biāo)： 1.波長(zhǎng)范圍，190-900nm； 2.靜態(tài)基線穩(wěn)定性：≤±0....
廣東廣州市
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AxioLab.A1是材料檢測(cè)中的理想儀器：高性價(jià)比的ECEPIPLAN物鏡具有以下特點(diǎn)：消色差校正，低應(yīng)力制造，物象清晰。
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聯(lián)系電話：39943056 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 波長(zhǎng)測(cè)量范圍：200-650nm 信噪比：750：1(RMS，350nm處純水拉曼譜帶)，基線處為2000：1(RMS...
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高精度數(shù)顯維氏硬度測(cè)量?jī)x（美國(guó)）
應(yīng)用范圍：鋼鐵、有色金屬、集成電路晶片、薄型塑料、金屬箔片、鍍層、涂層、熱處理、薄板。
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鍍層厚度測(cè)試
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負(fù)責(zé)人：周長(zhǎng)華 電話：020-39943080 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) NanoDrop2000—基座模式 儀器類型：分光光度計(jì)&nbs...
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可進(jìn)行普通洛氏硬度試驗(yàn)；測(cè)試行程加長(zhǎng)，可進(jìn)行較大尺寸的試件硬度試驗(yàn)；LCD數(shù)顯；可按ISO/ASTM標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行硬度標(biāo)尺轉(zhuǎn)換；LCD菜單操作，方便簡(jiǎn)單；具有GO/NG判斷，標(biāo)尺轉(zhuǎn)換，試驗(yàn)力加載...
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負(fù)責(zé)人：陳寶 電話：39943030 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 主要技術(shù)參數(shù) 1.分辨率：0.5cm-1,可升級(jí)至0.25cm-1 ...
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三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)（簡(jiǎn)稱CT），將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn)，通過(guò)單一軸面的射線穿透被測(cè)物體，根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線的吸收與透射率不同，收集每個(gè)角度的穿透圖像，之后...
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負(fù)責(zé)人：苗慧 電話：020-39943046 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 一、氣相色譜部分 1.配置自動(dòng)進(jìn)樣器，百位液體樣品盤。&nbs...
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原子力顯微鏡（AFM）；表面粗糙度測(cè)試
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輪廓儀（表面粗糙度測(cè)試）
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3D激光共聚焦顯微鏡；表面粗糙度測(cè)試
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基本原理：以SEM為基礎(chǔ)；用鎵(Ga)離子束代替電子束；最小束斑直徑達(dá)到10nm；用于精密切割；通過(guò)二次電子對(duì)切割效果進(jìn)行觀察；通過(guò)在樣品表面鍍W或Pt來(lái)保護(hù)切割邊緣；...
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聯(lián)系電話：39943037 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 1.七階八級(jí)程序升溫，0.1~120℃/分鐘 2.八個(gè)完全獨(dú)立的加熱塊，分別用于進(jìn)樣口、檢測(cè)器和其...
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入射信號(hào)：離子；出射信號(hào)：離子；分析深度：約3nm；靈敏度：ppm；分析信息：所有元素定性；橫向分辨率：10微米
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負(fù)責(zé)人：陳燁 電話：020-39943045 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 溫度范圍：室溫以上4℃～450℃ 最高使用溫度：400℃ ...
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