三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)（簡稱CT），將待測物體做360°自轉(zhuǎn)，通過單一軸面的射線穿透被測物體，根據(jù)被測物體各部分對射線的吸收與透射率不同，收集每個角度的穿透圖像，之后利用電腦運算重構(gòu)出待測物體的實體圖像。 C T技術(shù)原理 CT是在射線檢測的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，其基本原理是當(dāng)經(jīng)過準(zhǔn)直的射線束穿過被檢物時，根據(jù)各個透射方向上各體積元的衰減數(shù)不同，探測器接收到的透射能量也不同。按照一定的圖像重建算法，即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像，重復(fù)上述過程又可獲得一個新的斷層圖像，當(dāng)測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。