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檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
供應(yīng)無(wú)損檢測(cè)/電子元器件內(nèi)部缺陷檢查/X-ray/CT/C-CAM/無(wú)損檢測(cè)
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對(duì)應(yīng)法規(guī)：GB
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 目的： 通過不破壞產(chǎn)品或零部件結(jié)構(gòu)的方式，觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)、判斷可能的失效模式，大多數(shù)樣品測(cè)試后還可以繼續(xù)使用。 常用的無(wú)損檢測(cè)手段： 項(xiàng)目名稱 用途 X射線透視檢查 金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷檢測(cè) 超聲波掃描檢查 電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷 滲透探傷檢查 焊縫、管材表面裂紋、缺陷檢查 磁粉探傷檢查 鐵磁性材料表面裂紋、缺陷檢查
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