測厚儀,熒光測厚儀,金相切片制作設備,金相檢查設備,物理特性檢測設備化學實驗及環境檢測設備,鍍鎳/沉鎳自動添加設備,ph/orp自動添加設備,金相顯微鏡

　　compact eco x-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優越,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的首選.備有compact eco , compact 5 , mixx4 , mixx5等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統。

　　可測元素范圍：

　　鈦(ti)–鈾(u)

　　可測量厚度范圍：

　　原子序22-25，0.1-0.8μm

　　26-40，0.05-35μm

　　43-52，0.1-100μm

　　72-82，0.05-5μm

　　自動測量功能：編程測量，自定測量

　　修正測量功能：底材修正，已知樣品修正

　　定性分析功能：光譜表示，光譜比較

　　定量分析功能：合金成份分析

　　數據統計功能：x管理圖，x-r管理圖，直方柱圖。

　　綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析

　　鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的fp分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您大大節省購買標準片的成本.完全超越其他品牌的所謂fp軟件.

　　鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

　　定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

　　光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

　　統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.