產(chǎn)品名稱：X射線熒光光譜儀X-RAY XDVM-W產(chǎn)品型號：X-RAY XDVM-W

　　產(chǎn)品用途：測量涂鍍層厚度及材料

　　產(chǎn)品類別：涂鍍層測量儀

　　產(chǎn)品代碼：005

　　產(chǎn)品說明

　　儀器介紹：德國FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。材料分析和鍍層厚度測量，范圍從鋁(Z=13)到鈾(Z=92)詳細(xì)信息：德國FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了最新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。獨(dú)一無二的WinFTM®V.3或WinFTM V.6軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM®V.6軟件)。

　　典型的應(yīng)用范圍如下：單一鍍層：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等；二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金等；三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金等；雙鍍層：例如Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、Au/Ag/Ni、Sn/Cu/Brass等；雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe；最多24種鍍層(使用WinFTM V.6軟件)；應(yīng)用范圍:材料分析和鍍層厚度測量，范圍從鋁(Z=13)到鈾(Z=92)特點(diǎn):操作容易、快速、手動定位樣品。配備多種準(zhǔn)直器，確保有高強(qiáng)度訊號。標(biāo)準(zhǔn)軟件WinFTM®V.6；PDM測量方向由下而上X射線管微焦距；可加Ni和Al濾片；可編程節(jié)能功準(zhǔn)直器4個圓形準(zhǔn)直器；0.2mm/0.6mm/1mm/2mm軟件控制，馬達(dá)調(diào)節(jié)0.3mm最小測量面積有效對焦范圍2mmXY移動范圍不適用Z-軸不適用，光學(xué)對焦；可至測量臺上2mm距離測量室尺寸320mm×460mm×90mm測量室大容量，配備固定及可更換的樣品支架對焦方式利用旋鈕視覺對焦放大倍數(shù)光學(xué)：34-46×；數(shù)字：分級放大1、2、3、4× 總倍數(shù)：34-184× 廈門鑫博特科技有限公司銷售熱線：0592-3109941 3109938 3109939傳真：0592-3109936www.xmxbt.com　　　　　 E-mail：xbt-xm@163.com 　　　　地址：福建省廈門市湖里區(qū)創(chuàng)業(yè)園創(chuàng)業(yè)大廈622單元 郵編：361009

　　注：我公司主要生產(chǎn)和銷售渦流導(dǎo)電儀,金屬電導(dǎo)率測量儀,電導(dǎo)率測量儀,數(shù)字金屬電導(dǎo)率測量儀,儀器儀表,無損測量儀, D60K金屬電導(dǎo)率測量儀,涂鍍層測量儀,硬度測量儀,厚度測量儀,涂鍍層測厚儀,探頭微硬度測量儀,電導(dǎo)率儀