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高分辨率波前分析儀昊量供高分辨率波前分析儀價格

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品　　牌：
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出廠價：
1

主要規(guī)格：
波前分析儀

用　　途：

高分辨率波前分析儀昊量供高分辨率波前分析儀價格高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器 400X300高分辨率、500um高動態(tài)范圍、高性價比、同時檢測波前與M^2波前傳感器！關鍵詞：波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量儀、激光光束及波前分析儀、夏克哈特曼、鏡頭MTF 法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！PHASICS波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。法國PHASICS波前傳感器生產(chǎn)廠家具有雄厚的技術研發(fā)實力，能為客戶提供的各種自適應光學系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個性化解決方案。可根據(jù)客戶的應用需求，為客戶推薦合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統(tǒng)操作軟件等。圖1 波前校正前與校正后對比 PHASICS波前探測器依據(jù)其四波橫向剪切干涉專利技術，對哈特曼掩模技術進行了大的升級、改進。PHASICS波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動態(tài)范圍完美結合在了一起。可以滿足不同的客戶的應用需求，可對激光光束進行光強、位相、PSF（點擴散函數(shù)）、MTF（調制傳遞函數(shù)）、OTF（光學傳遞函數(shù)）、波前像差、M^2等進行實時、簡便、快速的測量。第一部產(chǎn)品介紹 SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器 PHASICS公司將 SID4的波前測量波長范圍擴展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學元件測量（例如印刷、半導體等等）和表面檢測（半導體晶片檢測等）。特點： u 高分辨率（250x250） u 通光孔徑大（8.0mmx8.0mm） u 覆蓋紫外光譜 u 靈敏度高（0.5um） u 優(yōu)化信噪比圖2 SID4-UV波前分析儀 SID4 波前傳感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強度分布，波前像差，激光的M2，澤尼克參數(shù)等進行實時的測量及參數(shù)輸出。特點： ? 波長范圍：400-1100nm ? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 測量穩(wěn)定性高 ? 對震動不敏感 ? 操作簡單 ? 結構緊湊，體積小 ? 可用筆記本電腦控制圖3 SID4位相檢測具體圖片請參見官網(wǎng) SID4-HR 波前相差儀可用于檢測各種透鏡，光學系統(tǒng)的檢測，可以對透鏡、光學系統(tǒng)的進行實時的PSF（點擴散函數(shù)）、MTF（調制傳遞函數(shù)）、OTF（光學傳遞函數(shù)）、波前像差測量及參數(shù)輸出。相對于傳統(tǒng)的透鏡檢測設備像：傳函儀、干涉儀，具有操作簡便，測量精度高，參數(shù)輸出方便等優(yōu)點，正在被越來越多的客戶推崇。特點： u 波長范圍：400-1100nm u 高性能的相機，信噪比高 u 實時測量，立即給出整個物體表面的信息（120000個測量點） u 曝光時間極短,保證動態(tài)物體測量 u 操作簡單圖4 SID4-HR 具體圖片請參見官網(wǎng) 圖5 SID4-HR傳遞函數(shù)檢測 SID4 NIR 波前分析儀主要針對1550 nm（1.5um-1.6um）激光的檢測，具有分辨率高高靈敏度、高動態(tài)范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。可用于光學測量，SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質量的理想工具。特點： 2 高分辨率（160x120） 2 快速測量 2 性價比高 2 **測量 2 對振動不敏感圖6 SID4 NIR激光波前檢測 SID4 DWIR 波前儀具有寬波段測量的特點。可以實時的檢測3-5um和8-14um的波前位相，強度分布等響應的波前信息。可以很好的滿足紅外波段客戶的波前檢測需求。特點： u 光學測量：SID4 DWIR是測量紅外物體特性（熱成像和**視覺）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結果包括MTF，PSF，像差，表面質量和透鏡焦距。 u 光束測量：（CO2激光器，紅外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數(shù)：像差，M2，光強分布，光束特性等 u 高分辨率（96x72） u 可實現(xiàn)**測量 u 可覆蓋中紅外和遠紅外波段大數(shù)值孔徑測量，無需額外中轉透鏡 u 快速測量對振動不敏感 u 可實現(xiàn)離軸測量 u 性價比高 SID4產(chǎn)品型號參數(shù)匯總型號第二部控制軟件第三部與傳統(tǒng)哈特曼波前分析儀比較具體詳情請參見官網(wǎng) 與傳統(tǒng)哈特曼波前傳感器測量結果對比：具體詳情請參見官網(wǎng) 技術參數(shù)對比：第四部應用領域 ? 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統(tǒng)波前像差檢測 ? 激光光束性能、波前像差、M^2、強度等的檢測 ? 紅外、近紅外探測 ? 平行光管/望遠鏡系統(tǒng)的檢測與裝調 ? 衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領域 ? 球面、非球面光學元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡) ? 虹膜定位像差引導 ? 大口徑高精度光學元器件檢測 ? 激光通信領域 ? 航空航天領域相關產(chǎn)品 XY系列向列液晶空間光調制器連續(xù)鏡面可變形鏡高靈敏度等離子體分析儀自適應光學系統(tǒng)（基于MEMS變形鏡）超高速超低噪聲近紅外相機（自適應探測器）

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