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賽貝克效應測量系統高精度賽貝克系數測量系統 Seeback賽貝克系數測量儀昊量供

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品　　牌：
昊量

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出廠價：
1

主要規格：
賽貝克效應測量系統

用　　途：

Seeback賽貝克效應測量系統高精度賽貝克系數測量系統！賽貝克（Seeback）效應測量系統是用來精確測量導電物質、金屬、有機導體和半導體的賽貝克系數的儀器。該設備樣品臺附加在焦耳-湯姆遜制冷臺上可以提供70K-730K的變溫范圍。擁有卓越的溫度穩定系和重現性，分辨率可達到0.01K。擁有極高的賽貝克系數測量精度及穩定性，精度可達到50nV。易于測量兩樣品，測量樣品包含金屬或者是薄膜賽貝克系數測量儀、賽貝克熱電效應測量系統, Seeback Measurement Systems 賽貝克效應(Seeback)是指在兩種不同導體組成的閉合電路中，如果兩個接點的溫度不同，則兩接點間會有電動勢產生。賽貝克系數測量儀是用來精確測量導電物質、金屬、有機導體和半導體的賽貝克系數的儀器。賽貝克(Seeback)系數測量儀主要包括賽貝克效應控制器、賽貝克樣品臺、溫度控制器三部分。賽貝克(Seeback)平臺依附在制冷臺上可以提供70K-730K和室溫-730K的變溫范圍，結合溫度控制器AUK2000可提供精確的溫度控制與測量并且擁有極高的穩定性和重復性。該系統控溫精度可達到±0.1K，分辨率可達到±0.01K，對溫度的響應速度可達到1K/s。賽貝克系數測量儀的工作原理大致如下，在賽貝克樣品臺上包含兩組熱電偶，一組是銅和已知熱電屬性的參考材料構成，一組是銅與待測樣品組成(如下圖所示)。其中一個接點為參考點，另一個接點為工作點。當參考點與工作接點有溫差時就可以分別探測到兩端電壓V1和V2。即 (1). V1=e1DT(P); (2). V2=e2DT(P); 所以(3).e1=e2 V1/ V2 。由于這種直接測量不會有很高的精度，因為儀器工作時會有儀器誤差、電線和連接點帶來的熱電效應和測量誤差。為了**這些誤差分別在兩個不同輸入功率下進行測量即：(4).V1(P1)= e1DT(P1)+ D V1 ; (5).V2(P1)=e2DT(P1)+ D V2 ; D V1 D V2 位系統誤差電壓（與溫度無關）。(6). V1(P2)= e1DT(P2)+ D V1 ；(7). V2(P2)= e2DT(P2)+ D V2 。**系統誤差即可得到e1=e2[V1(P1)- V1(P2)]/[ V2(P1)- V2(P2)]，系統誤差得到**。賽貝克效應的測量通過賽貝克控制器AUK1000來實現的。其結構緊湊小巧，可通過R232或者USB接口與電腦連接，并通過軟件完成測試。賽貝克數字控制器可實時對電壓進行測量并提供高精度和高重現性的測量，精度可達到50nV。 u 主要特點 l 寬的操作溫度（70-730K） l 卓越的溫度穩定性和重復性（±0.1K） l 高的測量精度（50nV） l 實時測量與分析 l 可測量柱狀或帶狀樣品 u 主要應用賽貝克系數測量儀是用來精確測量導電物質、金屬、有機導體和半導體的賽貝克系數。 u 主要參數Maximum Operating Temperature70K to 730KTemperature Stability±0.1KResolution for Measurements:50nV (1000G, 300G, 100G and 30G Amplifiers available)Power to Heat ample:Generates a temperature difference across sample, power available Min: 0.01W, Max: 1WData Output Options:Reports can be generated directly through the Software Suite. Exporting data to PNG, JPG, TXT and CSV options availableSample Length>2 mm and <10 mm 具體詳情請聯系昊量02151083793

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