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低溫試驗(yàn)/低溫測(cè)試/高低溫試驗(yàn)/高低溫測(cè)試等環(huán)境可靠性測(cè)試！
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對(duì)應(yīng)法規(guī)：GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫
IEC
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 低溫試驗(yàn) [項(xiàng)目介紹] 本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。 [業(yè)務(wù)范圍] 1. 計(jì)算機(jī)類(lèi)：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等 2.電子通信類(lèi)：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等。 3.電器類(lèi)：家電、燈具、變電器等各類(lèi)家電電器設(shè)備； 4.其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。 [測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)] GB/T 2423.1（下載查看），IEC 60068-2-1（下載查看），EIA 364（下載查看）， MIL-STD-810F等。
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