高溫測(cè)試 高溫測(cè)試報(bào)告 高溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

高溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202Method108A、GJB360B-2009方法108
高溫測(cè)試目的：為了考察高溫負(fù)載對(duì)試樣的影響，確定試樣在高溫負(fù)載條件下工作的適應(yīng)性。該實(shí)驗(yàn)一般用到 高溫試驗(yàn)箱。

高溫測(cè)試原理：在高溫直流負(fù)載條件下，被試樣品會(huì)受到高溫應(yīng)力和電應(yīng)力的雙向作用，其電性能和內(nèi)部結(jié)構(gòu) 都會(huì)有一定程度的變化。試驗(yàn)后對(duì)被試樣品的電性參數(shù)及外觀進(jìn)行檢查，就能判斷被試樣品抵 抗高溫和電流負(fù)載的能力。

低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。

低溫測(cè)試介紹：本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

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