IEC 68-2-13 試驗方法 M：低壓 IEC 68-2-13 Test M：Low air pressure 前言 本試驗法之目的在驗證組件、裝備或其它產(chǎn)品于低壓環(huán)境下儲存、運輸及使用的能力。 范圍 本試驗法同時適用于生熱及不生熱試件。 本試驗法適用于常溫下的低壓試驗。 限制 本試驗法不適用于低溫環(huán)境的低壓試驗，若欲評估此種情況，請參考"IEC 68-2-40 試驗方法Z/AM：低溫／低壓復(fù)合試驗"。 本試驗法不適用于干熱環(huán)境的低壓試驗，若欲評估此種情況，請參考"IEC 68-2-41試驗方法Z/BM：干熱／低壓復(fù)合試驗" 。 測試步驟 試驗前試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗。 試驗柜內(nèi)溫度需在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件范圍內(nèi)。 對于非操作狀況試驗之試件，可以無包裝、不加電(power off)或使用備便型態(tài)置于試驗柜內(nèi)。 將試驗柜內(nèi)氣壓以不超過每分鐘10kPa之速率調(diào)降至試驗規(guī)格。 對于需在操作狀況下試驗之試件，可依相關(guān)規(guī)范規(guī)定在試驗中加電(power on)操作，以驗證試件耐環(huán)境之能力。 表1：空氣壓力建議值 空氣壓力 海拔高度(取自ISO標(biāo)準(zhǔn)2533) 仟帕斯卡爾 毫巴 公尺 (kPa) (mbar) (m) 1 10 31,200 2 20 26,600 4 40 22,100 8 80 17,600 15 150 13,600 25 250 10,400 40 400 7,200 55 550 4,850 70 700 3,000 84 840 1,500 (注 #2) 注:#1--高度由海平面至1,000公尺，其氣壓為106 kPa 至86 kPa. #2--海拔高度在低于1,500公尺，亦可適用。 有量測需求之試件，依規(guī)定進(jìn)行量測。 對于生熱試件可于氣壓調(diào)降至規(guī)格值之前或后，先加電適當(dāng)時間使試件達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)，再作功能測試或量測。 氣壓在規(guī)格值依試驗規(guī)定保持適當(dāng)?shù)臅r間。 將試驗柜內(nèi)氣壓以不超過每分鐘10kPa之速率調(diào)升至標(biāo)準(zhǔn)大氣壓力狀態(tài)。 若相關(guān)規(guī)范無其他規(guī)定，試件須在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓力下約1～2小時，以回復(fù)原來狀況。 試驗后試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗。 測試條件 測試條件可由以下選擇適當(dāng)之氣壓條件及試驗時間或依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。 空氣壓力：如表1所示。 試驗時間：5分鐘， 30分鐘， 2小時， 4小時， 16小時。 氣壓變化率：每分鐘小于10kPa。 試驗容差：±5%或±0.1kPa兩者取其較大值，當(dāng)氣壓為84kPa時，其容差為±2kPa。 試驗設(shè)置 試驗柜需有能力維持第5.節(jié)所規(guī)定之測試條件。 當(dāng)氣壓回復(fù)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓力時，需避免試驗輔助裝備或設(shè)置所可能造成的空氣污染。 當(dāng)生熱試件作低壓試驗時，試驗設(shè)置的相關(guān)規(guī)定，請參考IEC 68-2-41試驗方法Z/BM。1.低氣壓測試目的 低氣壓測試主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項或同時作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗，并或同時對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測量。 2.低氣壓測試符合標(biāo)準(zhǔn)： GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》 GB/T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度(低溫、高溫) 低氣壓 振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則 IEC68-2-41《基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分 試驗 試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗》 HB5830.14《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件與試驗方法低氣壓(高度)》 JB3224-83使用于高海拔地區(qū)電工產(chǎn)品低氣壓試驗方法 GB/T4857.13 包裝 運輸包裝件 低氣壓試驗方法 GB12085.5 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法 綜合低溫與低氣壓 GGB/T10590 低溫 低氣壓試驗箱技術(shù)條件 GB/T5170.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備