集成電路應力測試認證
附件標準
AEC-Q100-001 邦線切應力測試
AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試
AEC-Q100-003 機械模式靜電放電測試
AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應測試
AEC-Q100-005 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、數據保持及工作壽命的測試
AEC-Q100-006 熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試
AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級
AEC-Q100-008 早期壽命失效率(ELFR)
AEC-Q100-009 電分配的評估
AEC-Q100-010 錫球剪切測試
AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測試
AEC-Q100-012 12V 系統靈敏功率設備的短路可靠性描述
A測試組
室溫測試
預處理室溫測試
高溫測試
高溫貯存
壽命試驗
高溫測試
功率
溫度循環
*
有偏溫濕度或高加速應力測試
溫度循環
高壓或無偏高加速應力測試或溫濕度(無偏)
室溫和高溫測試
邦線拉力
高溫測試室溫測試
B組測試
室溫高溫低溫測試
高溫工作壽命試驗
室溫高溫低溫試驗
室溫和高溫測試
早期壽命故障率
非易失性存儲器耐久力,數據保持能力,工作壽命
室溫和高溫測試
內容較多,各位有需求聯系我..
黃生18718473100 QQ914145532.郵箱chao.chy@163.com