TPR/TPD 化學(xué)吸附測(cè)試

預(yù)約須知1，此測(cè)試樣品無法回收！2，一般粉末或者顆粒狀樣品（粉末40-80目即可，不要太細(xì)），樣品質(zhì)量100-200mg；3，塊狀、薄膜樣品比較少，需考慮氣體分子能否擴(kuò)散到樣品里面；...

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電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀/質(zhì)譜儀（ICP-OES）ICPMS

ICP發(fā)布者：admin2018年12月23日ICP有3條評(píng)論編輯ICP品牌：Agilent型號(hào)：Agilent7700樣品回收：免費(fèi)回寄前置處理：免費(fèi)處理檢測(cè)范圍：1.icp-ms和icp-aes的...

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三維CT掃描儀

三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)（簡稱CT），將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn)，通過單一軸面的射線穿透被測(cè)物體，根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線的吸收與透射率不同，收集每個(gè)角度的穿透圖像，之后...

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3D激光共聚焦顯微鏡

3D激光共聚焦顯微鏡；表面粗糙度測(cè)試

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俄歇電子能譜AES

入射信號(hào)：電子；出射信號(hào)：電子；分析深度：約3nm；靈敏度：0.1%；分析信息：除H、He，化學(xué)態(tài)分析；橫向分辨率：10微米

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顯微維氏硬度計(jì)

顯微硬度測(cè)試參考URL：http://www.mttlab.com

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