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NIR-01-3D紅外探傷測試儀

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品　　牌：

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出廠價：
1 元/套

主要規格：
套

用　　途：
硅材料缺陷檢測

NIR-01-3D型紅外探傷測試儀是采用歐洲CNC工程鋁合金材料，其表面都采用了高強度漆面和電氧化工藝保護，系統外框采用高質量工業設計，所有的部件的設計都達到了長期高強度使用及最小維護量的要求，做到絕對的穩定性和耐用性。技術特點： ■自動化程度更高，測試效果更好 ■采用銦鎵砷傳感器，而非一般廠家采用固定值的模擬攝像管，具有硬件圖像校正和計算機參數控制的功能（包括亮度，伽馬，積分時間），其靈敏度好，探傷結果與實際情況一致性佳。不需為不同尺寸的硅塊設置不同的硬件參數（探傷位置，聚焦點，校準） ■我們的軟件系統為不同硅塊的表面情況及尺寸提供設置菜單，沒有必要在硬件上進行設置（當然我們也可以從硬件上進行設置）。 ■光源探照有效同質區域為300×330mm/550mm，我們采用了特殊擴散板材料，保證了在沒有圖像處理的情況也能確保成像質量。 ■測試范圍更廣 ■不僅可以探測標準尺寸的硅塊，而且可以探測任何尺寸的硅塊，沒有光源照射區域限制。 ■也可直接對未拋光的硅塊進行直接探測。 ■壽命更長 ■紅外照相機３年免費保修或更換的承諾 ■我們采用的是獨特的含有冷卻單元的工業級鍍金近紅外鹵管，保證了光源的持久耐用性，設備已經不采用普通鹵管設計，我們提供了強致冷卻單元，為設備的正常使用提供了足夠的冷卻單元，大大延長了儀器的使用壽命。 ■所有的部件的設計都達到了長期高強度使用及最小維護量的要求 ■即使在高照明的條件下，我們的相機傳感器也幾乎沒有退化的情況。 ■有多年在歐洲生產銷售應用的經驗，產品具有優良的工業應用性。 ■檢測更快 ■檢測速度快，自動四面檢測< 1分鐘,快速兩面檢測<20秒，一面<5秒 ■系統功能強大 ■可定制硅塊縫合復原功能 ■可定制硅塊尺寸測試模塊 ■可根據客戶需求進行功能模塊定制，包括硅錠晶體生長情況進行工藝分析 ■ 可定制在線生產模式 ■ 可定制砷化鎵磷化銦等其他半導體材料的探傷檢測 ■ 可定制中文操作系統界面技術指標： ■ 主要探測指標：裂縫，黑點，夾雜（通常為SiC），隱裂，微晶 ■ 硅塊電阻率：≥0.5Ohm*Cm（推薦） ■ 檢測時間：平均每個硅塊小于1分鐘，兩面小于20秒，一面小于5秒 ■ 硅塊尺寸：210mmx210mmx420mm ■ 分辨率：320px*256px（最早生產的產品） 640 px *512px（目前市場供應） 1280 px*1024px（2010年12月份批量生產） 2560 px*2048px（行業最高，2011年1-3月份批量生產） ■ 旋轉臺 ■ 采用單軸伺服電機 ■ 最大承載量:40kg ■ 具有過流保護以防止損傷和電機燒毀 ■ 無步進損失，高分辨率解碼機器 ■ 紅外光源 ■ 高強度NIR鹵燈，273mm加熱波長 ■ 功率：230V,1000W ■ 溫度：25-60攝氏度 ■ 光強可通過軟件控制 ■ 軟件具有過熱保護 ■ 觀測儀 ■ 采用紅外CCD控溫 ■ 12位ADC ■ 頻率：60Hz和100Hz兩個選擇 ■ 像素間距: 30μm ■ 可手動調節紅外鏡頭 ■ 測試樣品 ■ 測試硅塊尺寸：210mmx210mmx420mm ■ 一套硬件裝備可以檢測所有尺寸的硅塊 ■ 適用于不同的表面質量和厚度的硅塊 ■ 適用于拋光面和裸面，拋光面探測效果更佳 ■ 電阻率：≥0.5Ohm*Cm（推薦） ■ 應用 ■ 裂縫，黑點，夾雜（通常為SiC），隱裂，微晶 ■ 軟件（基于WIN XP） ■ 可從四個方向進行自動取樣 ■ 可快速進行樣塊的快速測量 ■ 軟件會對探測結果進行評價 ■ 可對檢測參數進行靈活設置 ■ 可進行像素管理和圖像處理 ■ 系統將對探測結果進行三維立體描繪詳情歡迎來電咨詢：北京合能陽光新能源技術有限公司北京市通州區工業開發區光華路16號電話：010-60546837 -104 傳真：01060546837-608 聯系人：肖經理18610357221 QQ：454972757 E-mail：xiaozongyong@henergysolar.com 董工：13581954918 E-mail：dongpeiming@henergysolar.com 公司網站：http://www.HenergySolar.com

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肖宗鏞

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