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機構(gòu)登錄
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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。本試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)GB 10589 低溫試驗箱技術(shù)條件GB 10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件GB 11158 高溫試驗箱技術(shù)條件GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則型號GDW-50GDW-100GDW-150GDW-225工作室尺寸:mm350×350×450400×450×550500×500×600500×600×750型號GDW-408GDW-800GDW-1000GDW-1500工作室尺寸:mm650×750×850800×1000×10001000×1000×10001500×1000×1000 技術(shù)參數(shù)溫度范圍A型-20℃～+100℃(+150℃)/ B型 -40℃～+100℃(+150℃)C型 -70℃～+100℃波動度≤±0.5℃均勻度≤2℃升溫速率1.0～3.0℃/min降溫速率 0.7～1℃/min
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