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天瑞儀器X熒光光譜儀EDX4500H新品上市全國熱賣中

這真不是您需要的產(chǎn)品？
品　　牌：
天瑞

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出廠價(jià)：
11 元/臺

主要規(guī)格：

用　　途：

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。性能特點(diǎn) 高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際先進(jìn)水平最新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好 SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號處理能力25倍以上低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性高信噪比的電子線路單元針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制內(nèi)置高清晰攝像頭液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然技術(shù)參數(shù) 產(chǎn)品型號：EDX 4500H 產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）同時分析元素：一次性可測幾十種元素測量時間：30秒-200秒探測器能量分辨率為：145±5eV 管壓：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA 測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V 環(huán)境溫度：15℃-30℃ 環(huán)境濕度：35%-70% 樣品腔體積：320mm×100mm 外形尺寸：660mm×510mm×350mm 重量：65Kg 標(biāo)準(zhǔn)配置高效超薄窗X光管 SDD硅漂移探測器數(shù)字多道技術(shù) 信噪比增強(qiáng)器 SNE 光路增強(qiáng)系統(tǒng) 高信噪比電子線路單元內(nèi)置高清晰攝像頭自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片自動穩(wěn)譜裝置三重安全保護(hù)模式可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu) 90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏真空泵應(yīng)用領(lǐng)域合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）

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