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雙脈沖測試系統

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品　　牌：
華科智源

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出廠價：
1

主要規格：

用　　途：
igbt測試，mos，二三極管，晶體管測試

IGBT雙脈沖測試平臺該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態參數測試，以表征器件的動態特性，通過特制測試夾具的連接，實現模塊的動態參數測試品牌：華科智源名稱：雙脈沖測試平臺型號： PT-1224 用途：測試動態參數 1.1 原理簡述雙脈沖測試平臺主要是通過特定程序控制功率元件在可控范圍內兩次開通，并測量過程中各種動態參數，特別是在不同母線電壓，不同溫度下參數差異，是評估 FRD 和 IGBT 二十多種動態參數重要測量手段。同時也是功率元件驅動及保護電路參數調整和驗證的測量平臺。 1.2 原理框圖 1.3 主要作用 1、測試對比不同 IGBT 的參數； 2、評估驅動的功能和性能； 3、獲取 IGBT 在開通、關斷過程的主要參數，以評估 Rgon 及 Rgoff 的數值是否合適； 4、開通、關斷過程是否有不合適的震蕩； 5、評估二極管的反向恢復行為和安全余量； 6、IGBT 關斷時的電壓尖峰是否合適，關斷之后是否存在不合適的震蕩； 7、評估 IGBT 并聯的均流特。 8、測量母排和系統的雜散電感。 9、可兼容 TO-252、TO263、TO-3P、TO-247、ME4、HP1、Hpdriver 等封裝；如特殊封裝可以定制開發適配版。電源范圍 0～1000VDC 加熱范圍室溫～200℃ 測試電流 0～2400A 負載電感 50uH\100uH\200uH\500uH （標配 2 種）脈寬調制范圍 5～400us 脈寬顯示屏 4 寸通過此設備與示波器連接測試項目開通參數關斷參數 Frd 反向恢復參數開通最大尖峰電流 Ic-peak max 關斷最大尖峰電壓 Vce-peak max 最大反向恢復電流 IRM 開通時間 Ton 關斷時間 Toff 反向恢復損耗 Erec 開通延遲 Td-on 關斷延遲 Td-off 反向恢復時間 Trr 開通電壓變化率 dv/dt-on 關斷電壓變化率 dv/dt-off 反向恢復電荷 Qrr 開通電流變化率 di/dt-on 關斷電流變化率 di/dt-off 反向恢復峰值功耗 Prr-peak 開通電壓下降時間 tf-v-on 關斷電壓上升時間 tr-v-off 前沿電流變化率 di/dt-r 開通電流上升時間 tr-i-on 關斷電流下降時間 tf-i-off 后沿電流變化率 di/dt-f 開通損耗 Eon Ic 拖尾電流值 It 反向恢復電壓變化率 dv/dt-rr Ic 拖尾時間 Tt 最大反向恢復尖峰電壓 Vrr-peak 關斷損耗 Eoff

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