汽車電子e-Mark測試介紹之大電流注入法實驗

汽車電子測試 e-Mark測試 大電流注入法

前言

    根據不同的車廠、國家的要求，針對汽車電子產品的窄帶電磁輻射干擾測試的差異性是很大的，主要集中在測試頻段、干擾強度以及天線的切換頻率等等。本文主要根據ISO 11452-4來介紹大電流注入法（BCI）測試的基本條件以及一下要求。

標準名稱

    ISO 11452-2: Road vehicles — Component test methods for electrical disturbances from narrowband radiated electromagnetic energy — Part 4: Bulk current injection (BCI)

測試目的

    該測試目的是檢驗設備對【1MHz – 400MHz】頻帶的抗干擾性能。

測試條件

? 測試溫度：(23 ± 5) °C.

? 電源電壓：(13.5 ± 0.5) V for 12 V; (27 ± 1) V for 24 V

? 調制：
        a). 未調制正弦波信號（可使用范圍：0.01 MHz to 18 GHz，校準時采用）

        b). 1KHz, 80%調制的AM（振幅調制）信號（可使用范圍：0.01 MHz to 800MHz，測試時采用）

    滯留時間（Dwell time）： 不小于1s

    頻率步長：

    測試嚴酷等級：

測試場地：

    測試應該在一個屏蔽室里完成

測試設備要求

    大電流注入探頭，該探頭工作頻率要能滿足測試范圍，能持續的經受整個測試頻率范圍內的輸入功率。

? 大電流校準探頭，該探頭工作頻率要能滿足測試范圍。

? AN（仿真網絡）

? 信號發生器，擁有內部（或者外部）的調制能力

? 功率放大器

? 功率計（或者等同設備），測試正向傳輸功率和反射功率

? 電流測量設備

測試設置（替代法）

接地板：材料為0.5mm（最小）后的銅，黃銅或者鍍鋅鋼材；尺寸最小為1000mm寬，1500mm長或者超出被測物200mm；接地材料的阻抗應不大于2.5豪歐，間隔應不大與300mm。

? 電源和AN：對于遠端接地應用兩個AN，對于近端接地可以只用一個AN（接于正極）。

? EUT擺放：EUT應置于絕緣，低介電常數（不大于1.4）且厚度為50(±5)mm的材料上。

? 測試線束，EUT和模擬負載的線束總長應為1000(±100)mm，測試線束應置于絕緣，低介電常數（不大于1.4）且厚度為50(±5)mm的材料上。

? 大電流探頭：注入探頭所在位置距EUT的距離d如下(替代法)：

        d = (150 ± 10) mm

        d = (450 ± 10) mm

        d = (750 ± 10) mm

測試結果性能判據

    Class A: EUT功能或性能一直保持正常，無任何異常現象

    Class B: 所有功能或性能在干擾狀態下，一個或者多個功能或者性能偏移指定的容差，但所有功能或性能在干擾移除以后能恢復到規定的容差限值以內。并且存儲數據不能有任何異常現象

    Class C: 一個或者多個功能或性能暫喪失，但在施加干擾之后EUT能自動恢復到正常模式

    Class D: 一個或者多個功能或性能暫喪失，但在施加干擾之后通過人為的干預能自動恢復到正常模式

    Class E: 一個或者多個功能或性能暫喪失，并且不能自動恢復到正常模式

    以上是對汽車電子產品大電流注入法測試的一些簡單介紹。摩爾實驗室（MORLAB）的測試能力涵蓋了汽車電子產品的E/e-mark認證需求，其測試數據目前已獲得了e1，e13，e17等相關認證機構的認可。并可基于CISPR25或GB 18655-2002為基礎，完成其標準中所定義的輻射騷擾及傳導騷擾等各項測試。