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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB548B-2005方法1003,微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB128A-1997方法1016,電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009方法302,電連接器試驗(yàn)方法 GJB1217A-2009方法3003,云母電容器總規(guī)范 GJB1313-1991第4.6.4,含宇航級云母固定電容器通用規(guī)范GJB191B-2009第4.7.5,有和沒有可靠性指標(biāo)的1類瓷介電容器規(guī)范GJB468-1988第4.7.9,有可靠性指標(biāo)的2類瓷介電容器總規(guī)范GJB924-1990第4.7.7,2類瓷介電容器總規(guī)范 GJB1314-1991第4.6.4,有可靠性指標(biāo)的高壓多層瓷介電容器總規(guī)范GJB1940-1994第4.7.8,有可靠性指標(biāo)的單層片式瓷介電容器總
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