服務簡介

XRF熒光光譜儀器由激發(fā)源X射線管和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統(tǒng)所收集的信息轉換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為11號元素（鈉Na）到92號元素（鈾U）

檢測項目

對樣品進行定性半定量分析

測試時需要添加硼酸，樣品是否回收請留意！

熒光光譜分析，需要提供相關譜圖紙質版給測試老師，以及具體的參數。

樣品要求

1. 樣品干燥，并且試樣在X射線照射下應該穩(wěn)定、不變形、不引起化學變化。

2. 固體：尺寸要求(mm) 長×寬：10×10mm～200×200mm 高：<100mm。提供0.3g-1g的樣品量可提高準確性！

3. 粉末：樣品均勻、粒度>200目 樣品量>0.1g，盡量提供約0.3g的樣品以提高準確性。

4. 液體：樣品無揮發(fā)性、腐蝕性，粘稠樣品不可測。

5. 樣品中吸附的二氧化碳和水會對測試結果有影響，請確認樣品的狀態(tài)以及是否需要屏蔽CON等元素（下單時備注）。