測量儀器名稱

校準參量

校準規范

測量范圍

擴展不確定度（k=2）

平板

平面度

平板檢定規程 JJG117-2013

(160×100～400×400)mm

U=0.9μm

(600×450～1500×1000)mm

U=2.2μm

(1600×1000～2500×1600)mm

U=2.9μm

通用卡尺

長度

通用卡尺檢定規程 JJG30-2012

(0～1000)mm

U=8μm+7×10^-6xL，L：m

千分尺

長度

千分尺檢定規程 JJG21-2008

千分尺(0～500)mm

U=1.0μm+7×10^-6xL，L：m

數顯千分尺(0～500) mm

U=1.0μm+2×10^-6xL,L:m

內徑表

長度

內徑表校準規范 JJF1102-2003

內徑百分表(2～35) mm

U=1.6μm

內徑百分表(35～450) mm

U=2.1μm

內徑千分表(2～450) mm

U=1.2μm

指示表

長度

指示表（指針式、數顯式）檢定規程 JJG34-2008

(0～10)mm

U=4μm

(0～1)mm

U=1.2μm

杠桿表

長度

杠桿表檢定規程 JJG35-2006

(0～1)mm

U=3μm

(0～0.4)mm

U=0.6μm

杠桿千分尺、

杠桿卡規

長度

杠桿千分尺、杠桿卡規檢定規程 JJG26-2011

杠桿千分尺(0～100) mm

U=0.2μm+3×10^-6xL,L:m

杠桿卡規(0～200) mm

U=0.82μm

螺紋千分尺

長度

螺紋千分尺檢定規程 JJG25-2004

(0～75)mm

U=3μm

(75～150)mm

U=4μm

(150～200)mm

U=5μm

齒厚卡尺

長度

齒厚卡尺校準規范 JJF1072-2000

M(1～50)mm

U=13μm

公法線千分尺

長度

公法線千分尺檢定規程 JJG82-2010

(0～200)mm

U=1μm+ 4×10^-6xL，L：m

高度卡尺

長度

高度卡尺檢定規程 JJG31-2011

(0～500)mm

U=8μm+7×10^-6xL,L:m

深度千分尺

長度

深度千分尺檢定規程 JJG24-2003

(0～25)mm

U=1μm

(25～275)mm

U=1.7μm+1×10^-6xL,L:m

深度百分表

長度

深度指示表檢定規程 JJG830-2007

(0～100)mm

U=25μm+15×10^-6xL,L:m

四等量塊

長度

量塊檢定規程 JJG146－2011

(0.5～100）mm

U=0.20μm+2×10^-6xL,L:m

測長儀

長度

測長儀校準規范 JJF1189-2008

(0~1000)mm

U=0.3μm+0.4×10^-6xL,L:m

接觸式干涉儀

長度

接觸式干涉儀檢定規程 JJG101-2004

(-2.5~+2.5)μm

U=0.03μm

(-5~+5)μm

U=0.04μm

(-10~+10)μm

U=0.05μm

光學計

長度

光學計檢定規程 JJG45-1999

(-100～+100)μm

U=0.2μm

工具顯微鏡

長度

工具顯微鏡檢定規程 JJG56-2000

(0~200)mm

U=0.3μm+0.7×10^-6xL,L:m

測長機

長度

測長機校準規范 JJF1066-2000

(-100～+100)μm

U=0.2μm

(0～100)mm

U=0.3μm+0.3×10^-6xL,L:m

(100～1000)mm

U=0.4μm+2×10^-6xL,L:m

三坐標測量機

長度

坐標測量機校準規范 JJF1064-2010

(0~1000)mm

U=0.5μm+2×10^-6xL,L:m

百分表.

千分表檢定儀

長度

指示類量具檢定儀檢定規程 JJG201-2008

(0~50)mm

U=0.2μm+0.4×10^-6xL,L:m

讀數、測量顯微鏡

長度

讀數、測量顯微鏡檢定規程 JJG571-2004

(0～8)mm

U=0.2μm

(0～50)mm

U=1.4μm

齒輪跳動（偏擺）檢查儀

長度

跳動檢查儀校準規范 JJF1109-2003

(0～500)mm

U=4μm

數顯測高儀

長度

數顯測高儀校準規范 JJF1254-2010

(0～1000)mm

U=0.3μm +2.6×10^-6xL,L:m

磁性、電渦流式覆層厚度測量儀

長度

磁性、電渦流式覆層厚度測量儀檢定規程 JJG818-2005

(5～50)μm

U=0.4μm

(50～1000)  μm

U=1.6μm+5.3×10^-6xL,L:m

超聲波測厚儀

長度

超聲波測厚儀校準規范 JJF1126-2004

(0.5～200)mm

U=7μm

投影儀

長度

投影儀校準規范 JJF1093-2002

(0～200)mm

U=0.3μm+0.7×10^-6xL,L:m

萬能角度尺

角度

萬能角度尺檢定規程 JJG33-2002

(0～320)°

U=1＇

(0～360)°

U=3＇

小角度檢查儀

角度

小角度檢查儀檢定規程 JJG300-2002

(0～40)'

U=0.3"

光學傾斜儀

角度

光學傾斜儀校準規范 JJF1083-2002

(0～360)°

U=3.4″

框式、條式水平儀

角度

框式水平儀和條式水平儀校準規范 JJF1084-2002

(0.02～0.15)mm/m

U=0.004mm/m

合象水平儀

角度

電子水平儀和合像水平儀檢定規程 JJG103-2005

(0～10)mm/m

U=0.002mm/m

觸針式表面粗糙度測量儀

粗糙度

觸針式表面粗糙度測量儀校準規范 JJF1105-2003

Ra(0.1～0.4)μm

U_rel=3.9%

Ra(0.4～1.6)μm

U_rel=3.0%

Ra(1.6～3.2)μm

U_rel=0.4%

平尺

直線度

平尺校準規范 JJF1097-2003

(0～1000)mm

U=0.2μm+5×10^-6xL,L:m

方箱

垂直度

方箱檢定規程 JJG194-2007

(100×100)mm ～ (400×400)mm

U=3.2μm

圓度、圓柱度測量儀

長度

圓度、圓柱度測量儀檢定規程 JJG429-2000

(0～300)mm

U=0.05μm

光滑極限量規

長度

光滑極限量規檢定規程 JJG343-2012

D≤500mm

U=1.4μm

內徑千分尺

長度

內徑千分尺檢定規程 JJG22-2013

(0～900)mm

U=1μm+2×10^-6xL,L:m

刀口形直尺

直線度

刀口形直尺檢定規程 JJG63-2007

(0～500)mm

U=（0.4～0.8）μm

正弦規

角度

正弦規檢定規程 JJG37-2005

0°～30°20′

U=4.5″

塞尺

厚度

塞尺檢定規程 JJG62-2007

(0.02～3.0)mm

U=1.5μm

針規、三針

長度

針規、三針校準規范 JJF1207-2008

三針:ф(0.118～6.585)mm

U=0.2μm

針規:ф(0.1～25)mm

U=0.2μm+5×10^-6xL,L:m

電感測微儀

長度

電感測微儀校準規范 JJF1331-2011

(-1~+1)mm

U=(0.02～1.6)μm

帶表卡規

長度

帶表卡規校準規范 JJF1253-2010

(5～100)mm

U=9μm+10×10^-6xL,L:m

大量程百分表

長度

大量程百分表檢定規程 JJG379-2009

指針式:(0～50)mm

U=11μm

數顯式:(0~50)mm

U=8.2μm

帶表千分尺

長度

帶表千分尺檢定規程 JJG427-2004

(0～100)mm

U=0.9μm+2×10^-6xL,L:m

水平尺

角度

水平尺校準規范 JJF1085-2002

(0～15°30")

U=（0.08～0.8）mm/m

焊接檢驗尺

長度

焊接檢驗尺檢定規程 JJG704-2005

(0～60)mm

U=0.02mm

角度

(0～120)°

U=8′