中船重工725研究所廈門材料研究院憑借先進的檢測設備和專業的測試工程師團隊，為廣大廠商，貿易商，科研高校提供材料電鏡形貌觀察、微區成分分析測試服務。

【儀器簡介】

掃描電子顯微鏡的制造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時，也可產生電子-空穴對、晶格振動 （聲子）、電子振蕩 （等離子體）。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。

【特點】1. 強大的電子光學系統，簡單操作 2. 高解析度 3.全自動電子槍  4. 多圖顯示模式 5. 簡單易懂的操作介面及功能表 6. 可變焦聚光鏡修改 7. 全對中樣品臺 8. 低真空SEM 

【技術參數】

放大倍數：5-300，000倍 

解析度：高真空：3nm(30KV)/8nm(3KV)/15nm(1KV) 低真空:4.0nm(30KV) 

電子槍：全自動，亦可手動調整 

樣品臺：大全對中型X=80mm，Y=40mm，Z=5到48mm，傾斜：-10 - +90度，旋轉：360度 

燈絲：工廠預對中燈絲（鎢） 

圖像模式：二次電子像，成份像，拓撲像，陰影像 

加速電壓：5-30KV 

聚光鏡：可變焦聚光鏡 物鏡：超級錐形物鏡 物鏡光闌：3檔，X-Y可細調

電位移：±50微米 自動功能：聚焦，亮度，襯度，消像散 

最大樣品：直徑：150mm 樣品交換：抽拉式樣品臺 

真空系統：全自動擴散泵DP。分子泵TMP

如需掃描電鏡形貌觀察、微區成分分析測試服務，歡迎聯系我測試中心的工程師，

電話：13559224294 Email:xm725lab@163.com.