檢測認證人脈交流通訊錄
SEM/EDS檢測
這真不是您需要的服務？
-
對應法規：掃描聲學顯微鏡（SAM）
CNAS認可項目：是 - 超聲波在介質中傳輸時，若遇到不同密度或彈性系數的物質，會產生反射回波，而此種反射回波強度會因材料密度不同而有所差異，掃描聲學顯微鏡利用此特性來檢出材料內部缺陷并依所接收的信號變化將之成圖像。超聲波能穿透密集的和疏松的固體材料，對于內部存在的空氣層非常的敏感，空氣層能阻斷超聲波的傳輸。確定焊接層、粘接層、填充層、涂鍍層、結合層的完整是SAM獨特的性能。 掃描聲學顯微鏡的頻率范圍為1～500MHz，空間分辨率達0.1μm，掃描面積達(0.25～300mm)2，能完成超聲波傳輸時間測量（A-Scan），縱向截面成像（B-Scan），X/Y二維成像（C,D,G,X-Scan）和三維掃描與成像。 掃描聲學顯微鏡常用于檢測電子元器件、材料及PCB/PCBA內部的各種缺陷（如裂紋、分層、夾雜物、附著物及空洞等）。
