太陽能板組件測(cè)試第三方報(bào)告IEC/TS 62804-1認(rèn)證太陽電池組件LID檢測(cè)報(bào)告PID測(cè)試機(jī)構(gòu)IEC62804認(rèn)證

DIN IEC/TS 62804-1-2017
光伏(PV)模塊.檢測(cè)電位誘導(dǎo)衰減的試驗(yàn)方法.第1部分:晶體硅(IEC/TS 62804-1-2015)
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)
 
IEC62804標(biāo)準(zhǔn)的雙85抗PID測(cè)試（測(cè)試條件為±1000V電壓，85攝氏度、85%相對(duì)濕度，96小時(shí)）
IEC62804標(biāo)準(zhǔn)的雙85抗PID測(cè)試（測(cè)試條件為±1500V電壓，85攝氏度、85%相對(duì)濕度，192小時(shí)）
光伏組件卓越的抗PID性能確保了組件的高質(zhì)量和高可靠性，保證了光伏電站的穩(wěn)定運(yùn)行，特別是保障了電站在高溫潮濕等特殊氣候條件下25年生命周期內(nèi)的平穩(wěn)運(yùn)作。
我司（安博檢測(cè)）測(cè)試項(xiàng)目：LID光致衰減，PID(抗電勢(shì)誘導(dǎo)衰減)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

安博檢測(cè)是國內(nèi)首家民營光伏產(chǎn)品測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，價(jià)格合理周期快，歡迎隨時(shí)來電來信咨詢，咨詢電話13480686521（微信同號(hào)）, QQ2213430959    郵箱：ivy.liu@anbotek.com   聯(lián)系人：劉工

多晶太陽能光伏組件，單晶硅光伏組件，非晶硅薄膜光伏組件，晶體硅光伏組件
Crystalline silicon PV module，光伏組件PV modules，太陽能電池板,太陽能板，單晶光伏板，多晶光伏板，太陽能發(fā)電板，光伏組件，太陽能光伏板

安博檢測(cè)光伏產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)如下，歡迎聯(lián)系我們：
IEC 61215:2005 地面用晶體硅光伏組件設(shè)計(jì)鑒定和定型 
IEC 61730-1光伏系統(tǒng)安全鑒定-第一部分結(jié)構(gòu)要求 
IEC 61730-2 光伏系統(tǒng)安全鑒定-第二部分測(cè)試要求 
GB 9535-1988 地面用硅太陽電池組件環(huán)境試驗(yàn)方法 地面用晶體硅太陽電池組件設(shè)計(jì)鑒定和類型 
EN 61730-1：2018 光伏系統(tǒng)安全鑒定-第一部分結(jié)構(gòu)要求 
EN 61730-1：2018 光伏系統(tǒng)安全鑒定-第二部分測(cè)試要求 
IEC 61701:1995 光伏組件的鹽霧腐蝕試驗(yàn)

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