電子元器件質(zhì)量一致性檢驗(yàn)

       質(zhì)量一致性檢驗(yàn)來自于國際電工委員會(huì)電子元器件質(zhì)量評定體系（IECQ）。它是對電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量的一種檢驗(yàn)方式，協(xié)助生產(chǎn)企業(yè)為了確保產(chǎn)品質(zhì)量在不同批次的生產(chǎn)過程中保持穩(wěn)定而進(jìn)行的質(zhì)量控制方式。

      定期進(jìn)行質(zhì)量一致性檢驗(yàn)，不僅可以隨時(shí)判斷生產(chǎn)產(chǎn)品批質(zhì)量是否符合規(guī)定的要求，而且可以及時(shí)管控生產(chǎn)過程質(zhì)量的穩(wěn)定性。它可以客觀全面地反映產(chǎn)品在生產(chǎn)過程及各種使用環(huán)境下的質(zhì)量狀況，從而達(dá)到①在生產(chǎn)過程中控制產(chǎn)品質(zhì)量，②在規(guī)定的周期內(nèi)，保證產(chǎn)品質(zhì)量維持在一定的（民品要求符合產(chǎn)品設(shè)計(jì)要求，軍要求滿足鑒定批準(zhǔn)）質(zhì)量水平。

適用范圍及參考標(biāo)準(zhǔn)：

       電子元器件批量生產(chǎn)階段產(chǎn)品（軍、民品），出于質(zhì)量管控的目的均可委托進(jìn)行檢驗(yàn)。參考標(biāo)準(zhǔn)涉及：GJB 597B 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范、GJB 548B微電子器件試驗(yàn)方法和程序，GJB 33A 半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范、GJB 128A半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法。

質(zhì)量一致性檢驗(yàn)主要包括逐批檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)兩種形式

一、逐批檢驗(yàn)

       逐批檢驗(yàn)是對每個(gè)提交的檢驗(yàn)批的產(chǎn)品批質(zhì)量，通過全檢或抽檢，判斷其生產(chǎn)批是否符合規(guī)定要求而進(jìn)行的一種檢驗(yàn)，標(biāo)準(zhǔn)中主要包括A組、B組檢驗(yàn)。

二、周期檢驗(yàn)

      周期檢驗(yàn)是在規(guī)定的周期內(nèi)，從逐批檢驗(yàn)合格的某個(gè)批或若干批中抽取樣本，并施加各種應(yīng)力的各項(xiàng)試驗(yàn)，然后檢測產(chǎn)品判定其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)中主要包括C組環(huán)境試驗(yàn)、D組耐久性壽命試驗(yàn)。

      廣電計(jì)量檢測股份有限公司從1964年開始從事計(jì)量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，歷經(jīng)五十余年的技術(shù) 沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展，成長為一家全國性、綜合化、軍民融合的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu)，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政府和?業(yè)眾多權(quán)威機(jī)構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì)。

      廣電計(jì)量檢測（GRGT）為應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、通信、智聯(lián)網(wǎng)聯(lián)等行業(yè)的芯?企業(yè)提供高效快速的原材料、電子元器件、PCB、PCBA失效分析服務(wù)，滿足客戶在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、制造和應(yīng)用中的缺陷定位、失效分析及可靠性驗(yàn)證需求。

      廣電計(jì)量可靠性與環(huán)境試驗(yàn)中心具備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)、六性設(shè)計(jì)與分析、元器件篩選與失效分析、仿真設(shè)計(jì)與分析、材料分析與工藝質(zhì)量評價(jià)、定壽延壽分析等服務(wù)能力，可為系統(tǒng)、整機(jī)、部件等各類產(chǎn)品提供從研發(fā)到生產(chǎn)的全過程技術(shù)解決方案。