軍工芯片、集成電路篩選與量產測試

       軍工集成電路的篩選方法與程序主要依據GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序。本標準規定了軍*微電子器件的環境、機械、電氣試驗方法和試驗程序，以及為保證微電子器件滿足預定用途所要求的質量和可靠性而必須的控制和限制措施。

       GJB 548B-2005標準適用于軍*及空間應用的微電子器件。如果承制方標明或聲稱其半導體集成電路符合本標準的規定，則必須滿足方法 5004、5005 或5010（對復雜微電路）的要求，混合集成電路應滿足GJB 2438的要求，同時應滿足本標準的一般要求和所引用的其他試驗方法的要求，而且產品規范應經標準化機構確認。

軍工芯片、集成電路篩選方法與程序：

芯片、集成電路老練及參數測試要求：

集成電路篩選覆蓋器件：

時基電路、總線收發器、緩沖器、驅動器、電平轉換器、門器件、觸發器、LVDS線收發器、運算放大器、電壓調整器、電壓比較器、電源類芯片（穩壓器、開關電源轉換器、電源監控器、電源管理等）、致模轉換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、控制器等;

我們的設備能力：

1.老煉需要的設備：

Ø 集成電路高溫動態老煉系統、混合集成電路高溫動態老煉系統、

Ø 電源模塊高溫老煉檢測系統、分立器件綜合老煉檢測系統、

Ø 分立器件間歇壽命試驗系統、電容器高溫老煉檢測系統、

Ø 繼電器低電平壽命篩選系統、電容高溫反偏老煉系統、

Ø 二極管恒流老煉系統。

2.電測試需要的設備：

Ø 阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、半導體參數分析儀、

Ø 高精度圖示儀、可編程電源、電子負載、示波器

Ø 頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設備：

Ø 光學顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測能力覆蓋：

ü 外觀檢測、內部無損檢測、密封性測試、內部缺陷測試。

公司簡介：

      廣電計量檢測股份有限公司（廣電計量）從1964年開始從事計量檢定工作，是原信息產業部電子602計量站，歷經五十余年的技術 沉淀，持續變革創新，實現跨越式發展，成長為一家全國性、綜合化、軍民融合的國有第三方計量檢測機構，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政府和?業眾多權威機構的認可資質。

        廣電計量可靠性與環境試驗中心具備環境與可靠性試驗、六性設計與分析、元器件篩選與失效分析、仿真設計與分析、材料分析與工藝質量評價、定壽延壽分析等服務能力，可為系統、整機、部件等各類產品提供從研發到生產的全過程技術解決方案。