儀器介紹

　　新一代Zetasizer Nano系列可以為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測量三項(xiàng)最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta電位和分子量。

　　這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。

　　粒度- NIBS技術(shù)可以對粒徑范圍0.3納米至10微米的顆粒和分子進(jìn)行測量。

　　Zeta電位- M3-PALS技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的zeta電位進(jìn)行精確的測量。

　　分子量-雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學(xué)裝置提供測量絕對分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。

　　Zetasizer Nano系列中,可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號

　　Zetasizer Nano ZS是Malvern Zetasizer Nano系列中的佼佼者，能夠測量所有三項(xiàng)參數(shù)，而且性能絲毫不減。

　　Nano ZS、Z及ZS90都可以使用獨(dú)特的一次性zeta電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。

　　所有系統(tǒng)均可與MPT-2自動滴定儀連接使用，實(shí)現(xiàn)趨勢測量和樣品制備的自動化。

　　主要特點(diǎn)

　　新一代Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀

　　持續(xù)革新與優(yōu)化樹立納米分析新標(biāo)桿

　　融合多項(xiàng)專利技術(shù)挑戰(zhàn)顆粒表征極限

　　粒度范圍極寬:0.3-- 10μm

　　濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v)

　　測量絕對分子量

　　高分辨率高靈敏度Zeta電位測量

　　最新專利zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150μl和檢測高濃度樣品最高至40%(依賴于樣品)的極限能力

　　技術(shù)參數(shù)：

　　粒徑測量

　　最大粒徑范圍: 0.3 nm - 10μm *

　　濃度范圍: 0.1ppm–40% w/v *

　　檢測角度: 175º和12.8º 最小樣品量: 12μl

　　Zeta電位測量

　　Zeta電位范圍:無實(shí)際限制

　　電泳遷移率: 0–無實(shí)際上限

　　最大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm

　　最大樣品濃度: 40% w/v

　　最小樣品量: 150μl

　　粒徑范圍: 3.8nm - 100μm *

　　分子量測量

　　分子量范圍342 - 2×107 Da * (動態(tài)光散射)

　　980 - 2×107 Da * (靜態(tài)光散射)

　　最小樣品量12μl，*取決于樣品

　　多項(xiàng)專利技術(shù)

　　?馬爾文專利NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有最高靈敏性

　　?馬爾文專利的新一代PALS+M3技術(shù),將最優(yōu)的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化

　　?馬爾文專利的毛細(xì)管樣品池電極組件,真正避免交叉污染

　　強(qiáng)大多功能系統(tǒng)

　　?世界公認(rèn)最優(yōu)的APD檢測器,靈敏度無出其右

　　?特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性

　　?標(biāo)準(zhǔn)配置研究級高速數(shù)字相關(guān)器

　　?175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量