檢測認證人脈交流通訊錄

聯系人:陳桂芳(66135051)
儀器簡介:
原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱AFM)利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測
樣品原子之間的作用力,從而達到檢測的目的,具有原子級的分辨率。
主要技術指標:
高分辨掃描器: XY方向范圍: 9μm x 9μm;Z方向范圍: 2μm
大范圍掃描器: XY方向范圍: 90μm x 90μm;Z方向范圍: 8μm
應用范圍:
生物大分子的結構及其他性質的觀測研究;
細胞的表面形態觀測;
納米材料表面形貌的觀測。


