聯(lián)系人：馬忠權(quán)(66136912)

儀器簡(jiǎn)介：

　　霍爾系統(tǒng)控制器和溫度控制器等部分組成，能實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體及其薄膜材料的電學(xué)特性測(cè)試，同時(shí)通過(guò)

液氦冷卻系統(tǒng)可達(dá)到對(duì)材料的變溫測(cè)量。具有測(cè)試速度快，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確的特點(diǎn)。

主要技術(shù)指標(biāo)：

　　技術(shù)參數(shù)磁場(chǎng)強(qiáng)度：0.3T;

　　溫度范圍：10K-300K；

　　輸入電流：1nA-20mA;

　　遷移率(cm2/Volt-sec):1-107

　　阻抗(Ohms.cm):10-4 to 107

　　載流子濃度(cm-3):107 - 1021

　　樣品夾具：6mm*6mm及20mm*20mm (PCB6,PCB20)；

應(yīng)用范圍：

　　測(cè)量材料：可應(yīng)用于各種半導(dǎo)體及其薄膜材料的載流子濃度，電阻率，載流子遷移率及霍爾系數(shù)等

電學(xué)性能的常溫或變溫測(cè)試包括所有半導(dǎo)體材料，比如：Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型

&P型均可測(cè)量)。