聯(lián)系人:陳文覺(jué)(56332496)
儀器簡(jiǎn)介:
X射線能譜儀配備在掃描電子顯微鏡上,該系統(tǒng)使掃描電鏡能在原有的功能即形貌觀察的基礎(chǔ)上,
進(jìn)一步進(jìn)行微區(qū)成分的分析研究,大大拓寬和深化了掃描電鏡的研究領(lǐng)域。該系統(tǒng)可進(jìn)行元素的定性和
定量分析。
主要技術(shù)指標(biāo):
分析元素范圍:Be4-U92
應(yīng)用范圍:
適用于各種材料的研究與產(chǎn)品測(cè)試,包括金屬和非金屬等各種材料。