聯系人：鐘慶東(13391312191)

儀器簡介：

　　可用于研究導體和絕緣體基底表面的幾何形貌；固/液、液/液界面的氧化還原活性；分辨不均勻電極表面的電化學活性；研究微區電化學動力學、研究生物過程及對材料進行微加工。

主要技術指標：

　　高分辨的三維定位裝置

　　X，Y，Z分辨率：4nm(CHI900C)

　　X，Y，Z移動距離：50mm

　　雙恒電位儀/恒電流儀

　　10V±電位范圍

　　12V±槽壓

　　電流范圍:250mA

　　1012歐姆*參比電極輸入阻抗:1

　　三電極或四電極

　　10-12-0.1A/V共12檔量程*靈敏度:1

　　電流測量分辨率:<0.01pA

應用范圍：

　　SECM用于電化學腐蝕現象的研究:分辨不均勻電極表面的電化學活性；研究微區電化學動力學。