聯(lián)系人：唐可(13817224066)

儀器簡介：

　　原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測形貌的目的，具有原子級的分辨率，能提供真正的三維表面圖。測試樣品可以是導體，也可以是非導體，而且樣品不需要任何特殊處理，是一種非破壞性測試方法。因此原子力顯微鏡被廣泛應(yīng)用于材料表面形貌和表面微觀結(jié)構(gòu)的研究。

主要技術(shù)指標：

　　1.具有ScanMaster閉路掃描系統(tǒng)，能真實地進行表面形貌成像和精確三維測量，

　　可實時監(jiān)控樣品和針尖，放大倍數(shù)為1000倍；

　　2.具有先進材料研究的材料分析軟件包(MAP)；

　　3.樣品最大尺寸：50mm×50mm×20mm；

　　4.允許掃描范圍：100μm，Z方向為7.5μm；

　　5. XY平面分辨率：1Å，Z方向分辨率：0.1Å；

　　6.樣品臺位移：5mm×5mm(精度1μm)

應(yīng)用范圍：

　　材料表面性能測試