聯系人：唐可(13817224066)

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儀器簡介：

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　　Keithley 4200-SCS/F型半導體器件性能表征系統是一個可以提供精密電流源、電壓源和測試功能的測試系統，為半導體器件和測試結構的直流參數測試、實時繪圖與分析提供了一套完整的方案，具有高精度和亞fA級的分辨率。

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主要技術指標：

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　　1.電壓測量范圍：1μV-200V，電壓測量最小分辨率為1μV；

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　　2.電流測量范圍：100fA-100mA，電流測量最小量程為100nA；在最小量程上的電流測量最小分辨率為100fA，精度30pA；

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　　3.測量單元數：3；

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應用范圍：

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　　可廣泛應用于各類新材料、薄膜材料、異質結構等光電子材料及器件的電學性質和物理特性的研究。