聯系人：胡鵬飛(66135028/18016386398)、彭劍超(66135028/18017086595)

儀器簡介：

　　日本電子高分辨分析型場發射透射電子顯微鏡，配有透射掃描附件、HAADF探頭、雙傾樣品臺、鈹雙傾樣品臺、Gatan 5樣品單傾臺、Gatan 654拉伸樣品臺、Gatan 794CCD等附件，主要應用于原子尺度研究原子的結構和成分。

主要技術指標：

　　熱場發射電子槍

　　加速電壓: 200 KV ;

　　最大放大倍率X 1,500,000;

　　點分辨率：0.24 nm ;

　　線分辨率：0.1 nm ;

　　最小束斑直徑0.5 nm;

　　樣品臺最大傾斜角X =±35o , Y =±30o;

　　EDS分辨率：MnKa小于136 eV;

　　分析元素范圍：B5-U92。

應用范圍：

　　材料的顯微結構分析；晶粒形貌；晶體缺陷；納米顆粒大小形態；界面結構；高分辨晶格像；微區成分分析等。