技術指標:檢出極限<10ppb 備注: 本設備可進行多種測試,測試種類和費用如下: 1)硅片表面金屬雜質含量的測試The surface of a silicon wafer metal impurity content test,費用:865.4RMB; 2)硅材料中體金屬雜質含量的測試The content of bulk metal impurities in silicon test,費用:865.4RMB; 3)酸液中金屬雜質含量的測試Metal impurities in the acid solution in the test,費用648.6RMB;
儀器用途:測試
收費標準:865.4
機組負責人:顧曉慶 13775080021 xiaoqing.gu@trinasolar.com