檢測認證人脈交流通訊錄

主要技術指標:掃描范圍100 um (微米),縱向分辨率優于1 A (埃),橫向分辨率優于1 nm (納米)。
功能/應用范圍:掃描探針顯微鏡(SPM)的納米量級的分辨率和光學顯微鏡的方便性相結合,使得本儀器能更廣泛地應用于科學研究和工業領域。其應用范圍包括:1.表面和材料科學。2.集成電路制造工藝中的測試。3.生物應用。4.薄膜質量評估。5.失效分析
技術特色:針對各類物理、機械、電子、化學、生物樣品均能提出對樣品制備的要求和建議,給出正確的測試方案;在測試完成后,幫助用戶進行數據、曲線和圖像的評估和分析
要測試和研究領域:材料/珠寶首飾 電子/信息技術其他
收費標準:其它收費方式
儀器負責人:朱國棟 電話:02165642872
電子郵件:gdzhu@fudan.edu.cn


