主要技術指標:(1)深度分辨率:幾個納米;(2)空間分辨率:<一個微米;(3)質量分辨率:m/m5000(4)檢測靈敏度:ppmppb;(5)絕緣層厚度為幾個微米的樣品質譜分析
功能/應用范圍:(1)樣品組分和雜質元素縱向分布的深度剖析;(2)樣品組分和雜質元素面分布的一維線掃描分析;(3)樣品組分和雜質元素面分布的離子圖象;(4)多層薄膜樣品組分和雜質元素分布及界面情況分析;(5)厚度為幾個微米絕緣層樣品的深度剖析
技術特色:(1)進行其它表面分析儀器所不能分析的元素氫(H)的檢測;(2)IC工藝結深、表面金屬化、背面金屬化和表面鈍化層的質譜檢測與深度剖析;(3)半導體材料和光電材料Si,GaAs,HgCdTe,Ge,AsGaIn和InP等的質譜檢測與深度剖析;(4)SOI材料性能和工藝的檢測;(5)機械設備和金屬材料中雜質元素氫(H)的檢測,氫脆和金屬疲勞機理的探討
主要測試和研究領域:材料/珠寶首飾電子/信息技術能源/核技術
收費標準:其它收費方式
儀器負責人:鐘高余 電話:021-65642393
電子郵件:ymcao@fudan.ac.cn,gyzhong@fudan.edu.cn
傳真:021-65103056