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機(jī)構(gòu)登錄
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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：近場掃描光學(xué)顯微鏡 (Scan near-field optical microscopy)
- 價格型號：Multiview 4000型*
- 儀器分類：分析儀器/顯微鏡及圖象分析儀器/光學(xué)顯微鏡
- 應(yīng)用領(lǐng)域：其他;儀器儀表
- 所屬單位：復(fù)旦大學(xué)物理學(xué)系
- 所在地點：上海市楊浦區(qū)邯鄲路220號
- 產(chǎn) 地：以色列
- 產(chǎn) 商：以色列Nanonics zmaging公司
- 價 值：0
- 購置日期：0000-00-00
主要技術(shù)指標(biāo)：采用3D Flatscan掃描器，掃描范圍:XY方向70um、Z方向70um，另外有30um和10um掃描器選配，掃描步進(jìn)：70um掃描器＜1nm、10um掃描器＜0.1nm，掃描器厚度7mm,重量75克；近場光學(xué)顯微鏡分辨率大于50nm，依賴近場探針的孔洞尺寸。
功能/應(yīng)用范圍：Nanonics專利的懸臂梁光纖探針(Cantilever NSOM probes)技術(shù),采用原子力顯微鏡的掃描、反饋方式，極大提高了NSOM信噪比，使得NSOM較易出圖容易操作；采用Nanonics專利的3D Flatscan掃描器，使得系統(tǒng)與光學(xué)顯微鏡、拉曼光譜、電子束、離子束兼容；Z向徑深達(dá)到70um；支持探針掃描和樣品掃描，唯一同時支持探針、樣品掃描的系統(tǒng)。可以實現(xiàn)突破光學(xué)衍射極限的成像，并可以探測樣品表面精細(xì)結(jié)構(gòu)的非輻射光場信息。
主要測試和研究領(lǐng)域：儀器/儀表其他
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