功能及用途
物相分析、點陣參數(shù)的精確測定、晶粒大小及微觀畸變分析、織構(gòu)分析、薄膜分析、應(yīng)力分析、納米尺寸粒徑及長周期分析、加熱過程相變分析。
主要技術(shù)指標
最大功率18KW(60KV,300mA)2θ測量范圍:0.5 ~140º配有:多功能(薄膜測量、極圖分析、應(yīng)力測定)、高溫、小角X射線散射等附件。
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