預約須知

1. 樣品狀態：可為粉末、塊體、薄膜樣品；

2. 粉末樣品：顆粒一般不超過5微米，提供20mg，尺寸過大請提前咨詢客戶經理；

3. 粉末/液體樣品請務必備注好制樣條件，包括分散液，超聲時間及配制濃度；

4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過5um，一定要標明測試面！

5. 測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上，基底大小最小不小于1*1cm。其他問題請咨詢客戶經理。

 

原子力顯微鏡AFM

型號：Bruker Dimension Edge；Bruker Dimension ICON等

 

測試項目：

a. 粉末，溶液，塊狀樣品的表面形貌，厚度，粗糙度測試

b. 生物/纖維樣品的表面形貌

c. 相圖

d.  PFM（壓電力顯微鏡）, EFM（電場力顯微鏡）, KPFM（表面電勢，Kelvin探針）, MFM（磁力顯微鏡）, CAFM（導電原子力顯微鏡），QNM（彈性模量），力曲線等特殊模式。

更多測試要求請咨詢客戶經理;

 

樣品要求：

1. 樣品狀態：可為粉末、塊體、薄膜樣品；

2. 粉末樣品：顆粒一般不超過5微米，提供20mg，若尺寸過大請提前咨詢客戶經理；

3. 粉末/液體樣品請備注好制樣條件，包括分散液，超聲時間及配制濃度；

4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過5um，一定要標明測試面！若尺寸過大請提前咨詢客戶經理

5. 測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上，基底大小最小不小于1*1cm。其他問題請咨詢客戶經理。

 

常見問題及回答：

為什么AFM測試樣品顆粒或者表面粗糙度不能過大？

因為尺寸過大，會碰到儀器探針針尖，針尖易磨鈍以及受污染，且磨損無法修復，污染則清洗困難 。

 

AFM拍攝不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度與自己預期不符合？

AFM拍攝也需要不斷尋找合適的位置拍攝，同一樣品不同拍攝部位表面形貌和粗糙度極有可能不一致，因為原子力顯微鏡成像范圍較小，與拍攝樣品表面是否均勻息息相關；

 

結果展示：

測試原始文件格式FLT格式或MDT格式可分別用Nanoscope analysis 和Nova 1138軟件打開。

 

服務簡介

原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質，在物理領域應用廣泛。

基于原子力顯微鏡的單細胞力譜技術的誕生，改變了生命科學以生物化學為基礎的傳統研究模式，開辟了以力學表征為基礎的全新研究視角，是生命科學研究方法的重要突破。目前該技術已經被大量用于醫學和生命科學領域的研究中。

本儀器結合了傳統光學顯微鏡，激光掃描顯微鏡以及探針顯微鏡功能的一體機。

 

服務參數

120nm水平分辨率，1nm垂直顯示分辨率，10nm垂直掃描分辨率。

 

檢測項目

測試項目：2D、3D、粗糙度、高度、溝痕深度。

 

樣品要求

樣品無磁性，塊體，薄膜，粉末均可，粉末樣品請務必寫清楚分散劑以及超聲時間，塊狀樣品不超過2cm*2cm。

 

常見問題及解答

為什么AFM測試粗糙度不能太大？

因為AFM測試是掃描探針接觸式測試，樣品表面粗糙度太大，會磨損探針。