預約須知

注意：首次下單用戶下單前請聯系項目經理確認需求。

1，粉體、液體、塊體均可測試

2，樣品的厚度不超過100nm，如果顆粒稍大一點，可適當研磨至100nm以下（可先拍SEM判定顆粒大小）；

3，一般制樣選微珊銅網即可，如果顆粒直徑小于10nm用超薄碳膜制樣；樣品含Cu，需要拍EDS能譜和mapping可選鎳網或者鉬網等；薄膜或塊狀樣品需另行制樣（如離子減薄、包埋切片、FIB等）

4，強磁樣品要求顆粒大小不超過200nm，且不接受自己制樣

5，請務必仔細檢查您的樣品，若發現以弱磁強磁充當非磁 或者 以強磁充當弱磁非磁，我們將可能無法安排您的實驗，不承擔以此造成的時間和樣品損失；而且因隱瞞樣品信息導致儀器損壞，需要您承擔全部賠償責任。

 

透射電子顯微鏡TEM

型號：FEI Tecnai F20, 日本電子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS

測試項目：

可測項目：形貌、能譜點掃、能譜線掃、mapping、HAADF(STEM)、衍射

備注：非磁、弱磁、強磁樣品均可拍攝

樣品要求：

1. 樣品狀態

粉末、液體樣品均可，薄膜和塊體等無法直接測試，需要離子減薄、雙噴、FIB、切片制樣請提前說明并確認

2. 樣品成分要求

該說明僅針對材料測試類樣品，生物類樣品與材料類處理方式完全不同（請參考生物類測試樣品要求）。一般對測試樣品有如下幾方面的要求：

安全性：無毒、無放射性；

是否含有有機物：有機物在高壓下不穩定，拍攝過程中極易被打散，樣品被打散的同時會污染到儀器，如需拍攝，請務必與工作人員確認。帶有機物的樣品，無法拍攝mapping，請在預約的時候不要選擇此選項。

磁性：磁性顆粒，易吸附到極靴上，原則上電鏡（SEM和TEM）不拍磁性樣品。但是不同的設備，測試老師不同的樣品處理經驗狀況下，對所拍樣品中磁性強弱的接受度不同，所以在預約時候請大家務必如實填寫樣品是否含磁及磁性的強弱。

        為方便區分樣品是否有磁性及磁性強弱，我們按如下方法對磁性樣品進行定義：

        磁性樣品：含鐵、鈷、鎳均為磁性樣品，其它明顯帶磁性的樣品。注意，磁性分硬磁和軟磁，有些材料對外不表現磁性，但加磁場后容易磁化，受熱后磁性增強也需要定義為磁性樣品。

        強磁：吸鐵石能吸起來的樣品。

        弱磁：吸鐵石吸不起來但是按前述定義為磁性的樣品。

 3. 制樣說明

以粉體為例：加溶劑溶解，配成一定濃度的分散液，超聲輔助避免樣品團聚，滴到銅網上，然后放于燈下烘烤，待溶劑揮發后，上機測試（液體可直接稀釋后滴到銅網上）

由于測試老師對樣品不了解，制樣時所需溶劑，濃度，超聲時間，銅網等，沒法給出準確判斷，請大家結合樣品屬性及測試目的，給出具體的制樣條件，否則測試老師只能按常規處理，不對制樣做多次嘗試

溶劑：常用是乙醇，其次是水（易揮發，不會在碳膜上留下痕跡），其他溶劑（如甲苯、丙酮等，如需要請自備溶劑），較易在碳膜上留下印跡

濃度：測試老師一般取兩滴（未知濃度），但對于要求一個視野看到幾十個顆粒，最好提供對應濃度或液體，否則測試老師很難取到合適的量，這種只能通過多次實驗嘗試，建議提前拍個低倍樣品，根據低倍圖片確認大概濃度

超聲：有的樣品，易團聚難超聲，需較長超聲時間；也有的樣品，超聲久的話會被超壞，甚至不能超聲。測試老師制樣時，一般默認是5min，如有特殊要求請提前說明

銅網：常用是銅網、超薄碳膜、微柵，如需鉬網、金網等，請自備且提前說明

一般普通形貌樣品用銅網，高分辨用超薄碳膜或者微柵。樣品為片狀，或者大于幾十納米，看高分辨可以用微柵（微柵沒有襯底，中間是空心）；量子點或小顆粒10nm，只能用超薄碳膜，相對襯度不是很好；

mapping要做C元素，用微柵，要求片狀樣品剛好在銅網孔的中間，在孔邊緣也是會有碳膜存在，因為微柵骨架上也有碳膜在。銅網，超薄碳膜，微柵都是有Cu元素，做mapping，樣品剛好在骨架上，就會掃到做Cu元素，一般用鉬網代替，但普通鉬網做高分辨效果不好

 

常見問題及回答：

能現場測試嗎？寄樣的話，我不在旁邊怎么才能拍到我要的圖片？

現場測試：微平科技不同城市，可以現場安排的樣品及要求不同，具體可咨詢當地的對接人員； 寄樣測試：SEM或TEM，會給到您一個測試單，您把對應的制樣要求（分散劑、超聲時間、銅網等）、測試要求（標尺、拍攝位置、形貌效果等）、測試目的等寫清楚，測試老師會按您指定的要求來拍

 

一個樣品會提供幾張圖片？

每樣品15張左右，具體根據樣品的拍攝情況而定

 

JPG、TIFF、DM3的區別

JPG和TIFF均是圖片格式，可以直接打開； DM3是源文件，需用DM軟件打開

 

結果展示：

1. 形貌圖

2. 點掃圖

3. 線掃圖

4. 面掃圖 

5. 衍射圖

6.量子點圖

 

服務簡介

透射電子顯微鏡在材料科學，生命科學，化學，物理學，金屬材料等領域有著不可獲取的重大作用，其可獲得金屬、礦物、半導體、高分子、陶瓷、復合材料、納米等材料微觀組織形貌、高分辨晶體結構，微觀組織等，對于研究材料微觀結構，探索材料機理舉足輕重

 

服務參數

加速電壓：20kV~200kV，連續可調； TEM點分辨率：0.25nm；TEM信息分辨率0.12 nm；STEM分辨率: 0.16 nm STEM模式可采集包括明場 (BF)，環形明場(ABF)，環形暗場(ADF)和大角度環形暗場(HAADF)四種來自不同角度電子信號的圖像； 高亮電子槍，探針電流50nA； 五軸(x, y, z, a, b)優中心超高精度自動壓電陶瓷樣品臺，最大傾斜角度：± 70° 四探頭無窗高分辨率能譜儀（EDS）系統，有效探測器面積120mm2，能量分辨率≤136eV，元素分析范圍： B5-Am95； 洛倫茲透鏡

 

檢測項目

1. 獲得納米材料，金屬材料，陶瓷材料的微觀形貌，孔隙情況，樣品顆粒大小等；

2. 獲得材料的高分辨數據，晶格條紋，獲取晶體學參數；

3. 獲得材料衍射花紋，判斷材料晶體學參數；

4. 得到材料EDS信號，表征材料元素分布，半定量分析材料元素含量等，可進行面掃，點掃，線掃等方式；

5. 具有STEM模式可采集包括明場 (BF)，環形明場(ABF)，環形暗場(ADF)和大角度環形暗場(HAADF)四種來自不同角度電子信號的圖像；

樣品要求

1. 樣品無磁性，不含鐵鈷鎳元素；2. 粉末樣品超聲處理滴至銅網或者微珊，金屬、陶瓷燈樣品通過雙噴，減薄等前處理手段處理到100nm以下薄區；

 

常見問題及解答

1. 是否可確保測試結果與文獻報的一致？

否，因為電鏡測試是材料微觀形貌等的真實反映，對于與文獻一致的樣品，即可獲得文獻效果的數據，但若所合成樣品并不與文獻一致，則測試結果也無法一致；總之透射獲得數據是材料真實情況；

2. 磁性樣品是否可測？

磁性樣品需提前與項目經理確認能測再下單；對于含有四氧化三鐵，強磁性鋼等強磁樣品不可測風險較大，含鐵鈷鎳的金屬氧化物粉末等弱磁樣品需提前確認；

3.樣品測試結果數據格式與分析軟件問題？

1. 日本電子型號的透射結果基本以dm3原始數據+TIF格式圖片為主；FEI型號電鏡只提供TIF圖片格式數據； 2. 具體說明如下：dm3格式數據為Gatan公司的Digital micrograph軟件生成的數據格式，相應地需要透射電鏡配備Gatan公司的CCD進行使用。 由于Talos F200（FEI）透射電鏡配備的CCD為FEI公司CCD，其配套的數據獲取軟件為Velox，因此無法生成的dm3格式的數據，其生成的原始數據格式為emd格式。由于Velox軟件目前沒有免費版本，因此只能導出tif格式的圖片給用戶進行處理。 3. 關于tif數據處理我們有以下幾點建議： 1、將導出的tif圖片使用Photoshop等軟件，將其轉為灰度（Gray Scale Image），然后就可以用DM軟件進行處理。 2、使用ImageJ等其他軟件進行處理。https://imagej.nih.gov/ij/index.html；

4.樣品大小及重量？

粉末10mg左右，塊體3mm直徑的φ3標準樣且具有豐富薄區；