服務領域

農業,農產品和食品,材料,生物醫學,醫藥,石油化工,地質礦產,珠寶首飾,能源,輕工,電子與測量,有機化學,考古

主要技術指標

Cu靶X光管電壓≤30kV、電流≤10mA(300W低功率X射線)；測角儀半徑：≥150 mm；測角儀工作方式：θ/θ方式；掃描范圍：-10°～160°；測角儀精度：0.0001°，準確度≤0.02°；半導體陣列探測器，子探測器個數：≥160個；具有靜態掃描功能，靜態掃描2θ角≥3.7度；背景：< 0.1 cps；樣品臺滿足旋轉反射測量,消除樣品取向。配EVA和TOPAS分析軟件；配消反射單晶硅樣品臺，可用于微量樣品測試

主要功能及應用領域

物相定性半定量、晶粒大小、晶格類型、晶胞參數、微觀應變、結晶度、織構等的測定分析,結構解析；廣泛應用于金屬及合金材料、半導體及超導材料、陶瓷材料、化學及涂層材料、地質礦物、聚合物及催化劑、環境材料、醫藥品、新材料及納米材料等領域。

儀器聯系人：葉翔宇

聯系人電話：17767152686

郵政編碼：310018

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