主要技術指標:高真空分辨率3.0nm in SEI, 4.0nm in BEI低真空分辨率4.0nm in BEI;EDX能譜儀譜峰分辨率<132.0 ev
主要附件及功能:可在高、低真空模式下進行掃描電鏡顯微鏡分析,配置的EDX能譜分析儀可對樣品進行微區元素定量、定性分析及線掃描、面掃描分析。
主要應用領域:材料,地質礦產
檢測項目:金屬材料檢測
儀器聯系人:柴立元
聯系人電話:0731-88836921
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