主要技術指標:可測量分散體系中顆粒的納米粒度、zeta電位粒度測量范圍:2nm~3μm
主要應用領域:材料,生物醫學
檢測項目:可測量分散體系中顆粒的納米粒度、zeta電位
儀器聯系人:周彥彬
聯系人電話:13507492045
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